X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出好的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。

　　X射線熒光測厚儀測量原理：

　　當原子受到原級X射線或其他微觀粒子的激發使原子內層電子電離而出現空位，原子內層電子重新配位，較外層的電子躍遷到內層空位，并同時放出次級X射線，即X射線熒光。X射線熒光的波長對不同元素是特征的，因此可以根據元素X射線熒光特征波長對元素做定性分析，根據元素釋放出來的熒光強度，來進行定量分析如元素厚度或含量分析。

　　X射線熒光測厚儀測試過程及注意事項：

　　1．儀器及附件均處開機狀態。

　　2．在程序庫中選中與產品對應的曲線。

　　3．打開儀器前蓋，臺面自動伸出。

　　4．將樣品放入儀器臺面，測量大致位置對準儀器紅外對焦點。

　　5．關閉儀器前蓋，儀器臺面自動歸位。

　　6．在顯示器屏幕中用鼠標控制儀器臺面微調，精確對準測試位置。

　　7．測試過程中指示燈亮紅，此時嚴禁打開儀器前蓋。

　　8．測試時間十五秒主窗口及數據表中顯示測試產品厚度。

　　9．指示燈熄滅，打開儀器前蓋，臺面自動伸出。取出樣品，完成測試。